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簡(jiǎn)要描述：全新/二手Tektronix泰克TSO820采樣示波器示波器Tektronix TSO820 示波器8系列采樣示波器為電信和數(shù)據(jù)通信應(yīng)用以及通用的光學(xué)元件測(cè)試提供了全面的光學(xué)測(cè)試解決方案，對(duì) 50G、100G、200G 和 400G IEEE 802.3 TM 標(biāo)準(zhǔn)（例如 400GBASE-FR8、400GBASE-DR4 和類似的光學(xué)直接檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)）
產(chǎn)品型號(hào)：廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商更新時(shí)間：2024-03-26訪 問 量：889產(chǎn)品分類
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| 品牌 | TeKtronix/美國(guó)泰克 | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
|---|---|---|---|
| 類型 | 數(shù)字示波器 | 通道數(shù) | 4 |
| 帶寬 | 500MHz | 采樣率 | 1025GS/s |
| 記錄長(zhǎng)度 | 128k | 波形捕獲率 | 36000wfms/s |
| 外形尺寸 | 300mm,300mm | 重量 | 4kg,4kg |
| 電動(dòng)機(jī)功率 | 210kW | 外形尺寸 | 300mm,300mm |
| 重量 | 4kg,4kg | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,能源,電子/電池,汽車及零部件,電氣 |
全新/二手Tektronix泰克TSO820采樣示波器
全新/二手Tektronix泰克TSO820采樣示波器
8系列采樣示波器為電信和數(shù)據(jù)通信應(yīng)用以及通用的光學(xué)元件測(cè)試提供了全面的光學(xué)測(cè)試解決方案，
對(duì) 50G、100G、200G 和 400G IEEE 802.3 TM 標(biāo)準(zhǔn)（例如 400GBASE-FR8、400GBASE-DR4 和類似的光學(xué)直接檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)）
進(jìn)行一致性測(cè)試。TSO820 采樣示波器還設(shè)計(jì)用于支持高速 NRZ 標(biāo)準(zhǔn)，例如以 25.78125 Gb/s 的速率運(yùn)行的 100 Gb 以太網(wǎng)
（100GBASE-LR4 或類似產(chǎn)品）。通過在發(fā)布時(shí)更新或添加新的測(cè)量插件，保持更新的標(biāo)準(zhǔn)更改。
TSO820 主機(jī)TSO820 8 系列泰克采樣示波器 2 插槽主機(jī)，標(biāo)配附件，
8系列采樣示波器為電信和數(shù)據(jù)通信應(yīng)用以及通用的光學(xué)元件測(cè)試提供了全面的光學(xué)測(cè)試解決方案。TSO8C17 和 TSO8C18
光模塊提供 30 GHz 以上的光帶寬和集成的光參考接收機(jī) (ORR)1，可在 850 nm、1310 nm 和 1550 nm
波段進(jìn)行單模和多模一致性測(cè)試。30 GHz 以上的光帶寬，短波長(zhǎng)和長(zhǎng)波長(zhǎng)光學(xué)測(cè)試的單模和多模支持
光參考接收機(jī) (ORR)1 泰克優(yōu)化了響應(yīng)，以便實(shí)現(xiàn)更佳的標(biāo)準(zhǔn)配合和更高質(zhì)量的模板測(cè)試結(jié)果， 支持標(biāo)準(zhǔn)符合性測(cè)試，
使用 TSO8C17 或 TSO8C18 模塊的高靈敏度和低噪聲性能，可以準(zhǔn)確地測(cè)試和表征短波或長(zhǎng)波光信號(hào)
光參考接收機(jī) (ORR)1 滿足標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的一致性測(cè)試的具體要求。消光比測(cè)量和內(nèi)置變量 ER 校正可確保精度和重復(fù)能力，
利用 8 系列的緊湊型外形和用戶可插拔模塊優(yōu)化測(cè)試設(shè)置，以快速適應(yīng)工作流程的變化并適應(yīng)下一代技術(shù)。
由更高密度設(shè)備驅(qū)動(dòng)的 8 系列儀器外形更小，可顯著減少整體生產(chǎn)占用空間。
TSO820 采樣示波器主機(jī)還具有比上一代產(chǎn)品快 8 倍的碼型采集功能，從而提高測(cè)試吞吐量。
TCR801 光接口時(shí)鐘恢復(fù)是 8 系列采樣示波器的搭配，旨在支持越來越多的光接口標(biāo)準(zhǔn)。作為 8 系列的一部分，
這款儀器通過有效地恢復(fù)高速光信號(hào)上的時(shí)鐘來簡(jiǎn)化光接口測(cè)試。
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